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根據(jù)過程質(zhì)量的客觀分布規(guī)律與質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求相對關(guān)系的不同，正態(tài)分布下的過程能力指數(shù)計算方法，大致可分為下列四種情況。
　?。?雙側(cè)公差，對稱分布，中心重合。
　　這是產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求的公差雙側(cè)對稱分布，其公差中心M與過程質(zhì)量特性分布中心μ相重合，無偏移（如圖1所示）。其過程能力指數(shù)Cp為：

式中：Tμ為產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求的規(guī)格上限值；
　　　　　T1為產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求規(guī)格下限值；

由上式可知，Cp值越大表明過程能力越強(qiáng)。此時，對人員、設(shè)備等過程影響因素的控制要求迫近制成酏　越高。當(dāng)Cp值大低時，則不能保證過程質(zhì)量滿足標(biāo)準(zhǔn)要求，導(dǎo)致出現(xiàn)過多的不合格品。因此，Cp值的選擇既要考慮產(chǎn)品質(zhì)量滿足要求，又要考慮過程的經(jīng)濟(jì)性。
　　表面看，當(dāng)Cp=1時似乎既滿足要求，又比較經(jīng)濟(jì)，但由于過程的隨機(jī)波動性難以避免，分布中心的波動和偏移也難以避免，必然使不合格的風(fēng)險增加。因此，Cp=1并不是最佳選擇。在實(shí)際工作中，要適當(dāng)增大Cp值，以確保過程能力滿足要求。
　　2.雙側(cè)公差，對稱分布，中心偏移。
　　這種情況的公差中心Ｍ與過程分布中心μ不重合，有偏移（如圖２所示，圖中虛線表示虛擬的無偏移情況下的分布曲線，實(shí)線為實(shí)際有偏移時的過程分布曲線。）

對于這種情況，計算Cp的公式需要進(jìn)行修正。首先，引入分布中心μ與公差中心M偏移量的概念。設(shè)絕對絕對偏移量ε，相對偏移量k ：

因?yàn)棣膛cＭ之間的偏移，引起了“吃容差”的現(xiàn)象。當(dāng)過程分布中心向右偏移時（見圖２），會吃上偏差（右半邊的偏差）；當(dāng)分布中心向左偏移時，會吃下偏差（左半邊的偏差）。這時，過程出現(xiàn)不合格呂的危險首先出現(xiàn)在被吃掉容差的一邊。因此，計算過程能力指數(shù)時，可以只考慮分布中心偏移后引起噴氣發(fā)動機(jī)容不得差的半邊。按照圖２的情況，ＣＰ的計算公式如下：

當(dāng)μ＝Ｍ　，即分布中心與公關(guān)中心相重合時，ε＝０、κ＝０，導(dǎo)致ＣＰ＝　　　，這是無偏移的情況。
　　當(dāng)μ與Ｍ發(fā)生相對偏移，且μ偏移至公差的上限Ｔ１或偏至下限　，即μ＝Ｔｕ或μ＝Ｔ１時，ε＝Ｔ／２、κ＝１、ＣＰ＝0（當(dāng)偏移使μ越過Ｔｕ或Ｔ１時,ε>Ｔ／２、Ｋ>１、ＣＰ＝０），表明過程能力嚴(yán)重不足，必須停產(chǎn)整頓，分析原因并采取措施糾正分布中心的嚴(yán)重偏移。
　?。?單向公差，只有上限要求。
　　有些產(chǎn)品的質(zhì)量特性（如機(jī)械產(chǎn)品的清潔度和形位公差，藥品中的雜技含量等），只給出了公差的上限要求并希望越小越好，而沒有下限要求。此時，過程能力指數(shù)的計算公式如下：

當(dāng)μ＝Tu時，ＣＰ＝０，表示過程中心偏移至公差上限，過程能力嚴(yán)重不足，產(chǎn)生的不合格品率可能高達(dá)５０％。
　　當(dāng)μ>Tu時，令ＣＰ＝０，表示過程能力更加不足。
　　發(fā)生上述兩種情況都必須停產(chǎn)整頓，對過程進(jìn)行改進(jìn)，糾正過程中心的嚴(yán)重偏移情況，以便提高過程能力。
　?。?單向公差，只有下限要求。
　　有些產(chǎn)品的質(zhì)量特性（如機(jī)械產(chǎn)品的機(jī)械強(qiáng)度，電氣產(chǎn)品的耐電壓強(qiáng)度、壽命、可靠性），都要求不低于某個下限值，而對上限沒有限制且越高越好。在這種情況下，過程能力指數(shù)的計算公式如下：